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芯硅谷 数显测厚表
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MProbe UVVisSR薄膜测厚仪
MProbe UVVisSR薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs
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芯硅谷 D6228 机械百分测厚表
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Semiconsoft MProbe 膜厚测试仪
Semiconsoft MProbe 膜厚测试仪MProbe 让 你 成 为 测 量 专 家 !大部分半透明的或具有轻微吸收性的薄膜能够被快速、可靠的测量:氧化物、氮化物、感光耐蚀膜、聚合物、半导体
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显微反射膜厚仪MProbe MSP
产品概述 MProbe MSP显微薄膜测厚仪适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy
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碳硫赛默飞PROSIS™ 在线测厚系统简介
赛默飞 红外在线分析厚度传感器PROSIS™用于测定涂布,橡胶,建筑材料,无纺布,锂离子电池,符合行业标准。适用厚度,克重,湿度项目。 在线厚度测量系统是一种测量和控制系统,用于在线测量连续生产的
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MS5100 多参数在线分析仪
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MS6100多参数在线分析仪
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在线测厚铝箔冷轧在线测厚仪赛默飞 应用于煤炭
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Semiconsoft MProbe Vis膜厚测试仪
Semiconsoft MProbe Vis膜厚测试仪让你成为测量专家 !大部分半透明的或具有轻微吸收性的薄膜能够被快速、可靠的测量:氧化物、氮化物、感光耐蚀膜、聚合物、半导体(Si, aSi
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